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更新時(shí)間：2020-06-10
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高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試要求
低溫（低溫試驗(yàn)箱）試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證方法依據(jù)GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：低溫（等同采用IEC：60068-2-1：Environmental testing：Part2-1：Tests-Tests A：Clod）。
高溫（高溫試驗(yàn)箱）試驗(yàn)?zāi)芰︱?yàn)證方法依據(jù)GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫（等同采用IEC：60068-2-2：2：2007 Environmental testing：Part2-2：Tests-Tests B：Dry heat）。
受試驗(yàn)的樣品放置于試驗(yàn)箱內(nèi)，接通電源按要求進(jìn)行相關(guān)測(cè)試記錄實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)完成試驗(yàn)。
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